تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS

طیف سنجی جرمی یکی از کاربردی ترین تکنیکهای آنالیز در شیمی است. این روش جهت آنالیز عنصری، آنالیز سطح و جهت اهداف کمی و کیفی صورت میگیرد. اجزای اصلی دستگاه شامل منبع یون، تجزیهگر جرمی و آشکارساز یونی میباشد. طراحی های مختلفی از این دستگاه با کارآیی های متنوع ارائه شده است.این روش به طور گسترده ای تقریبا برای شناسایی تمام عناصر موجود در جدول تناوبی کاربرد دارد. اساسا هر اتم یا مولکولی که توانایی یونیزه شدن و انتقال به فاز گازی را داشته باشد، میتواند توسط این تکنیک مورد تجزیه قرار گیرد. 
 

  • ارائه شده در دانشگاه صنعتی شریف 
  • قابل ارائه برای رشته مهندسی مواد، رشته فیزیک، رشته شیمی و نانومواد 
  • قابل ارائه برای مقطع کارشناسی و کارشناسی ارشد 
  • قابل ارائه برای درس روش های آنالیز مواد

  • کد فایل: 16442
  • تاریخ انتشار: ۱۴۰۱/۹/۶
  • حجم فایل: 985.1 کیلوبایت
جهت دریافت تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS مراحل زیر را انجام دهید:
  1. بر روی دکمه پرداخت و دریافت فایل کلیک کنید و مشخصات خود را وارد نمایید.
  2. دکمه پرداخت و دانلود را کلیک نمائید تا به صفحه پرداخت بانک هدایت شوید.
  3. پس از پرداخت موفق مجددا به سایت شاپرفا و صفحه دریافت فایل هدایت میشوید.
  4. کافیست بر روی گزینه دریافت فایل کلیک کنید و فایل را دریافت نمایید.
در صورتیکه پرداخت شما موفق باشد بصورت خودکار به صفحه دریافت فایل هدایت میشوید

چنانچه به هر دلیل به صفحه دریافت فایل هدایت نشدید یک ایمیل حاوی لینک دانلود برای شما بصورت خودکار ارسال میگردد، همچنین از طریق لینک پیگیری خرید میتوانید لینک دانلود را مشاهده نمایید.

در صورتیکه فایل دریافت شده، بر روی سیستم یا تلفن همراه شما نمایش داده نمیشود؛ با توجه به فرمت فایل باید نرم افزار مخصوص آن را نصب داشته باشید، بطور مثال برای نمایش فایل هایی یا فرمت DOC یا PPT و پاورپوینت باید نرم افزار microsoft office نصب داشته باشید.
شگفت انگیزهای امروز شهرفافا سفارش تبلیغات در شاپرفا
  1. آواتار


    ارسال نظر