تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF

روش فلورسانس پرتوی ایکس یا XRFیا طیف سنجی پرتوی ایکس یکی از روشهای آنالیز عنصری است که امروزه از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود. این روش، به ویژه به خاطر سرعت زیاد در شناسایی عنصری، برای برخی از صنایع ضروری است. طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس، وسیله ای مستقل برای آنالیز محتوای عنصری است. این طیف سنج از تابش پرتوی ایکس برای تحریک انتشار پرتوهای ایکس مشخصه از اتم های نمونه استفاده می کند. عبارت فلورسانس برای ایجاد تمایز بین پرتوی ایکس ثانویه ساطع شده از اتم های نمونه و پرتوهای ایکس اولیه که به نمونه تابیده، استفاده میشود.

 

  • ارائه شده در دانشگاه صنعتی شریف 
  • قابل ارائه برای رشته های مهندسی مواد، نانومواد و فیزیک مقطع کارشناسی و کارشناسی ارشد 
  • قابل ارائه برای درس روش های آنالیز مواد

  • کد فایل: 16441
  • تاریخ انتشار: ۱۴۰۰/۱۱/۲۵
  • حجم فایل: 862.8 کیلوبایت
جهت دریافت تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش فلورسانس پرتو ایکس یا XRF مراحل زیر را انجام دهید:
  1. بر روی دکمه پرداخت و دریافت فایل کلیک کنید و مشخصات خود را وارد نمایید.
  2. دکمه پرداخت و دانلود را کلیک نمائید تا به صفحه پرداخت بانک هدایت شوید.
  3. پس از پرداخت موفق مجددا به سایت شاپرفا و صفحه دریافت فایل هدایت میشوید.
  4. کافیست بر روی گزینه دریافت فایل کلیک کنید و فایل را دریافت نمایید.
در صورتیکه پرداخت شما موفق باشد بصورت خودکار به صفحه دریافت فایل هدایت میشوید

چنانچه به هر دلیل به صفحه دریافت فایل هدایت نشدید یک ایمیل حاوی لینک دانلود برای شما بصورت خودکار ارسال میگردد، همچنین از طریق لینک پیگیری خرید میتوانید لینک دانلود را مشاهده نمایید.

در صورتیکه فایل دریافت شده، بر روی سیستم یا تلفن همراه شما نمایش داده نمیشود؛ با توجه به فرمت فایل باید نرم افزار مخصوص آن را نصب داشته باشید، بطور مثال برای نمایش فایل هایی یا فرمت DOC یا PPT و پاورپوینت باید نرم افزار microsoft office نصب داشته باشید.
شگفت انگیزهای امروز سفارش تبلیغات در شاپرفا
  1. آواتار


    ارسال نظر